Dieses Praktikum untersucht die messbasierte Charakterisierung von Harzverzerrungen unter Verwendung spezieller Hochgeschwindigkeits-PCB-Teststrukturen. Ziel ist es, differenzielle Teststrukturen zu entwerfen, zu simulieren und zu analysieren, die es ermöglichen, die durch Glasgewebe und Harzverteilung verursachte Verzerrung zu quantifizieren. Die Arbeit trägt zur Entwicklung standardisierter Messstrukturen für ein zuverlässiges Design von Hochgeschwindigkeitsverbindungen und zur Materialauswahl bei. Während Ihres Praktikums werden Sie sich intensiv mit dem Thema auseinandersetzen, indem Sie umfassende Literaturrecherchen zu faseroptischen Effekten und durch Harz verursachten Ausbreitungsverzögerungen in Hochgeschwindigkeits-Leiterplatten durchführen. Sie werden eigenständig präzise VNA (Vektor-Netzwerkanalysator)-Messungen an Testproben durchführen, um die breitbandigen S-Parameter zu bestimmen. Sorgfältig werden Sie die gemessenen und simulierten S-Parameter analysieren, um die Ausbreitungsverzögerung und die differenzielle Ausbreitungsverzögerung genau zu bestimmen. Darüber hinaus werden Sie systematisch den Einfluss des faseroptischen Gewebes, der Leiterbahnausrichtung und der Routing-Geometrie untersuchen, um Optimierungspotenziale aufzudecken. Schließlich werden Sie Ihre Ergebnisse klar dokumentieren und diese nutzen, um verbesserte Charakterisierungsstrukturen zu entwickeln, die unsere Entwicklung voranbringen werden.

• Ausbildung: Studium im Bereich Elektrotechnik, Physik oder vergleichbar
• Erfahrung und Wissen: Erfahrung mit Python, MATLAB oder ähnlichen Analysetools ist von Vorteil
• Persönlichkeit und Arbeitsweise: Sie sind in der Lage, Aufgaben strukturiert anzugehen und Lösungen eigenständig zu entwickeln
• Arbeitsroutine: Büroanwesenheit erforderlich
• Begeisterung: Interesse an Hochfreelektronik, Signalintegrität oder elektromagnetischer Simulation
• Sprachen: Gute Kenntnisse in Deutsch oder Englisch